LOGIN TO YOUR ACCOUNT

Username
Password
Remember Me
Or use your Academic/Social account:

CREATE AN ACCOUNT

Or use your Academic/Social account:

Congratulations!

You have just completed your registration at OpenAire.

Before you can login to the site, you will need to activate your account. An e-mail will be sent to you with the proper instructions.

Important!

Please note that this site is currently undergoing Beta testing.
Any new content you create is not guaranteed to be present to the final version of the site upon release.

Thank you for your patience,
OpenAire Dev Team.

Close This Message

CREATE AN ACCOUNT

Name:
Username:
Password:
Verify Password:
E-mail:
Verify E-mail:
*All Fields Are Required.
Please Verify You Are Human:
fbtwitterlinkedinvimeoflicker grey 14rssslideshare1
Чепіженко, В. І.; Національний авіаційний університет; Терещенко, Л. Ю.; Національний авіаційний університет (2016)
Publisher: Національний авіаційний університет
Languages: Ukrainian
Types: Unknown
Subjects: 629.7.08 [UDC 656.71.06], служба безопасности аэропортов; аналитические модели; внутренняя структура объектов контроля; источника излучения; тень объектов контроля, 629.7.08 [УДК 656.71.06], служба безпеки аеропортів; аналітичні моделі; внутрішня структура об’єктів контролю; джерела випромінювання; тінь об’єктів контролю
The analytical models of optical image of control object’s internal structure obtaining wereconsidered, and on their basis distortions, appearing in image depending on visualization system’sparameters and emitting source type, were analyzed Рассмотрены аналитические модели получения оптического изображения внутренней структуры объектов контроля и на этой основе проанализированы искажения, которые приобретают изображения в зависимости от параметров системы визуализации и типа источника излучения Розглянуто аналітичні моделі отримання оптичного зображення внутрішньої структури об’єктів контролю та на їх основі проаналізовано спотворення, які набувають зображення в залежності від параметрів системи візуалізації та типу джерел випромінювання